PHL的应力测量仪PA-300-XL是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射残余应力检测仪，PA系列双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品视野范围从几个毫米到近500毫米。

双折射测量仪PA-300-XL主要特点：

• 操作简单，测量速度可以快到3秒。

• 视野范围内可一次测量，测量范围广。

• 更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。

• 具有多种分析功能和测量结果的比较。

• 维护简单，不含旋转光学滤片的机构。

• 高达2056x2464像素的偏振相机。

双折射测量仪PA-300-XL应用领域：

• 光学镜片

• 智能手机玻璃基板

• A4纸尺寸的大样品

  
  

  项次	项目	具体参数
  1	输出项目	相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】
  2	测量波长	520nm
  3	双折射测量范围	0-130nm
  4	测量小分辨率	0.001nm
  5	测量重复精度	<1nm（西格玛）
  6	视野尺寸	40x48mm到240x320mm（标准）
  7	选配镜头视野	不适用
  8	选配功能	实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

  
  
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