PLW系列角分辨光谱系统
产品系列:微区角分辨光谱 产品型号:PLW系列角分辨光谱系统 产品品牌: PLW系列角分辨集成系统功能开发; 基于订制BXFM显微系统设计,支持适应300-1050nm的角分辨光谱测量,配备光谱仪探测器及相应系统软件, 角分辨系统最终可以获取能谱信息、空间位置信息、角度信息。1)轴向扫描角度范围:-60~60°,傅里叶面到光谱狭缝不同位置切换不同角度,成像面到光谱狭缝选择不同区域。2)侧向变角激发角度范围:-50~50°(采用非同轴侧方向选区激发方式,角度可变,角度最大调整…



产品资料整理
页面概述
基于订制BXFM显微系统设计,支持适应300-1050nm的角分辨光谱测量,配备光谱仪探测器及相应系统软件, 角分辨系统最终可以获取能谱信息、空间位置信息、角度信息。1)轴向扫描角度范围:-60~60°,傅里叶面到光谱狭缝不同位置切换不同角度,成像面到光谱狭缝选择不同区域。2)侧向变角激发角度范围:-50~50°(采用非同轴侧方向选区激发方式,角度可变,角度最大调整范围100°),在样品与入射光直接加入2F设置实现样品选区。3)基于光学变换,使得聚焦后入射到样品表面(平行光准直入射为可选配置),手动调节变角度、镜面反射扫描接收信号,背散射信号采集。4)角度分辨率:4°,干涉衰减,非同轴变角。5)可见近红外300-1050nm,轴向、侧向、透射、反射、微区、角分辨光谱系统。系统基本配置特点:
1)轴向激发、扫描角度范围:-60~60°2)侧向变角激发角度范围:-50~50°(采用非同轴侧方向选区激发方式,角度可变,角度最大调整范围100°)3)定角度入射角度分辨率:4°4)定角度接收角度分辨率:0.5°变角度反射:入射角分辨率:4°通过光学变换,实现来自光纤光源的光平行入射到样品表面,手动调节实现变角度入射、镜面反射扫描接收信号,和定角度入射,背散射接收信号。
1)功能:实现探测区域的二维空间选区,增设样品的定点选区(通过2f调节实现)2)调节方式:手动调节3)五维调节:X方向狭缝距离调节,,平面θ方向旋转调节4)狭缝开合精度:2.5μm(100x物镜)5)选区旋转精度:5°6)空间范围:Ø10~180μm
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应用场景
面向科研和工业检测中的光谱采集、材料分析、发光测试和瞬态过程表征需求。
技术亮点
- 产品系列:微区角分辨光谱 产品型号:PLW系列角分辨光谱系统 产品品牌: PLW系列角分辨集成系统功能开发
- 基于订制BXFM显微系统设计,支持适应300-1050nm的角分辨光谱测量,配备光谱仪探测器及相应系统软件, 角分辨系统最终可以获取能谱信息、空间位置信息、角度信息
- 1)轴向扫描角度范围:-60~60°,傅里叶面到光谱狭缝不同位置切换不同角度,成像面到光谱狭缝选择不同区域
- 2)侧向变角激发角度范围:-50~50°(采用非同轴侧方向选区激发方式,角度可变,角度最大调整范围100°),在样品与入射光直接加入2F设置实现样品选区
选型建议
建议结合样品材料、目标结构、加工精度、测试周期、预算范围和后续集成方式进行配置判断。旭量光学可根据旧资料参数和实际应用目标,协助整理系统路线和验证方案。
常见问题
PLW系列角分辨光谱系统适合哪些应用?
适合需要系统选型、样品验证、工艺开发或小批量验证的应用场景。
是否可以按样品需求定制?
可以根据材料、尺寸、精度、节拍和预算范围评估配置。
方案咨询
如果你正在评估相关系统、样品验证或工艺开发需求,可以把应用场景、材料类型、目标尺寸、精度要求和预算范围发给旭量光学,我们会协助判断适合的系统配置和验证路径。
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如果你正在评估相关系统、样品验证或工艺开发需求,可以把应用场景、材料类型、目标尺寸、精度要求和预算范围发给旭量光学,我们会协助判断适合的系统配置和验证路径。
电话咨询:021-6130 3114
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