光谱成像表征
订制BXFM显微系统设计，支持适应300-1050nm的角分辨光谱测量，配备光谱仪探测器及相应系… PLW Mapping显微系统集成了光电流扫描Photocurrent mapping\拉曼\荧光PL\二次谐波扫描… 著名半导体设备厂商Lasertec的Hybrid+表面缺陷检测系统的功能：白光共聚焦、激光共聚焦、微… 在整个焦平面上的所有波长处确保无像差，从而提供了较高的空间分辨率… C-T型光谱仪在光谱领域应用广泛，技术成熟，售后完善，在各种大中小型系统 中均有应用……
产品资料整理
页面概述
订制BXFM显微系统设计，支持适应300-1050nm的角分辨光谱测量，配备光谱仪探测器及相应系…
PLW Mapping显微系统集成了光电流扫描Photocurrent mapping\拉曼\荧光PL\二次谐波扫描…
著名半导体设备厂商Lasertec的Hybrid+表面缺陷检测系统的功能：白光共聚焦、激光共聚焦、微…
在整个焦平面上的所有波长处确保无像差，从而提供了较高的空间分辨率…
C-T型光谱仪在光谱领域应用广泛，技术成熟，售后完善，在各种大中小型系统 中均有应用…
TriVitas CRS拉曼显微系统拥有超高灵活性，上手操作简单，其系统可提供中等和极好的光谱分…
基于 Olympus 显微镜和美国 Princeton Instruments 光谱仪及 CCD 打造，凭借 PI 光谱仪的图像校正功…
CRAIC Apollo显微拉曼分光光度计专为快速，便捷的获取微区拉曼光谱而设计…
CRAIC UVM -1 紫外显微镜可通过一次无缝操作实现从深紫外到近红外的成像…
该FLIM相机系统可对单光子进行二维定位，获得50ps的高时间分辨的同时具有高空间分辨率…
350-1000nm近红外超灵敏探测器…
PILMAX4通过增强型CCD(ICCD)或增强型EMICCD(emIccD)系统改善了时间分辨成像和光谱…
NIRnava在900-1700nm波段SWIR/NIR-II近红外探测器具有长时间曝光高灵敏度的优势、曝光时间可…
PIXIS相机是普林斯顿科研相机的标准版本;深度半导体制冷、高信噪比…
应用场景
面向科研仪器、工业光电系统和样品验证需求。
技术亮点
- 订制BXFM显微系统设计，支持适应300-1050nm的角分辨光谱测量，配备光谱仪探测器及相应系… PLW Mapping显微系统集成了光电流扫描Photocurrent mapping\拉曼\荧光PL\二次谐波扫描… 著名半导体设备厂商Lasertec的Hybrid+表面缺陷检测系统的功能：白光共聚焦、激光共聚焦、微… 在整个焦平面上的所有波长处确保无像差，从而提供了较高的空间分辨率… C-T型光谱仪在光谱领域应用广泛，技术成熟，售后完善，在各种大中小型系统 中均有应用… TriVitas CRS拉曼显微系统拥有超高灵活性，上手操作简单，其系统可提供中等和极好的光谱分… 基于 Olympus 显微镜和美国 Princeton Instruments 光谱仪及 CCD 打造，凭借 PI 光谱仪的图像校正功… CRAIC Apollo显微拉曼分光光度计专为快速，便捷的获取微区拉曼光谱而设计… CRAIC UVM -1 紫外显微镜可通过一次无缝操作实现从深紫外到近红外的成像… 该FLIM相机系统可对单光子进行二维定位，获得50ps的高时间分辨的同时具有高空间分辨率… 350-1000nm近红外超灵敏探测器… PILMAX4通过增强型CCD(ICCD)或增强型EMICCD(emIccD)系统改善了时间分辨成像和光谱… NIRnava在900-1700nm波段SWIR/NIR-II近红外探测器具有长时间曝光高灵敏度的优势、曝光时间可… PIXIS相机是普林斯顿科研相机的标准版本
- 深度半导体制冷、高信噪比… 普林斯顿生产的Pr0EM是一款高分辨率、背照式的EMCCD
- 应用了特有的eXceon™3传感器技术… 来自PI的PI-MAX4:1024f是新一代、全集成的科研级增强型CCD(ICCD)，相机具备了1k*1k的分辨率… 普林斯顿仪器KURO系列相机，是世界上第一台背照式sCMOS相机，高速成像与超低噪声… First Light lmagining设计并制造了用于900-1700nm的近红外光范围的高灵敏度、高读出速度的科… PyLoN系列可见波段液氮制冷低噪声探测器，是一款专门针对弱信号检测,超高灵敏度科研光谱… 是市面上先进的1024×1024电子倍增型电荷耦合器，拥有先进的低噪声读出技术，使用特有的… 在线咨询 旭量光学 在线客服 您可以填写联系表单，稍后安排专人与您电话沟通，如未能及时回应可拨打销售热线：18116227931(微信)
选型建议
建议结合样品材料、目标结构、加工精度、测试周期、预算范围和后续集成方式进行配置判断。旭量光学可根据旧资料参数和实际应用目标，协助整理系统路线和验证方案。
常见问题
光谱成像表征适合哪些应用？
适合需要系统选型、样品验证、工艺开发或小批量验证的应用场景。
是否可以按样品需求定制？
可以根据材料、尺寸、精度、节拍和预算范围评估配置。
方案咨询
如果你正在评估相关系统、样品验证或工艺开发需求，可以把应用场景、材料类型、目标尺寸、精度要求和预算范围发给旭量光学，我们会协助判断适合的系统配置和验证路径。
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电话咨询：021-6130 3114
微信咨询：18116227931