PLW系列角分辨光谱系统

PLW系列角分辨集成系统功能开发;

产品性能

基于订制BXFM显微系统设计,支持适应300-1050nm的角分辨光谱测量,配备光谱仪探测器及相应系统软件, 角分辨系统最终可以获取能谱信息、空间位置信息、角度信息。
1)轴向扫描角度范围:-60~60°,傅里叶面到光谱狭缝不同位置切换不同角度,成像面到光谱狭缝选择不同区域。
2)侧向变角激发角度范围:-50~50°(采用非同轴侧方向选区激发方式,角度可变,角度最大调整范围100°),在样品与入射光直接加入2F设置实现样品选区。
3)基于光学变换,使得聚焦后入射到样品表面(平行光准直入射为可选配置),手动调节变角度、镜面反射扫描接收信号,背散射信号采集。
4)角度分辨率:4°,干涉衰减,非同轴变角。
5)可见近红外300-1050nm,轴向、侧向、透射、反射、微区、角分辨光谱系统。
系统基本配置特点:

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基本功能

1)轴向激发、扫描角度范围:-60~60°
2)侧向变角激发角度范围:-50~50°(采用非同轴侧方向选区激发方式,角度可变,角度最大调整范围100°)
3)定角度入射角度分辨率:4°
4)定角度接收角度分辨率:0.5°
变角度反射:入射角分辨率:4°
通过光学变换,实现来自光纤光源的光平行入射到样品表面,手动调节实现变角度入射、镜面反射扫描接收信号,和定角度入射,背散射接收信号。

选区调节

1)功能:实现探测区域的二维空间选区,增设样品的定点选区(通过2f调节实现)
2)调节方式:手动调节
3)五维调节:X方向狭缝距离调节,,平面θ方向旋转调节
4)狭缝开合精度:2.5μm(100x物镜)
5)选区旋转精度:5°
6)空间范围:Ø10~180μm

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