透过率材料应力检测

显微镜型相位差测量仪

适用于高相位差样品的显微表征,针对钢化玻璃和光学薄膜剖面的残余应力评估…

双折射测量仪PA-300-XL

PA系列双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品视野范围从几个毫米到近500毫米…

残余应力测量系统 WPA-200-L

应力双折射仪采用偏振光电矢量合成及光学补偿原理,通过对样品的光程差的定量测定…