显微镜型相位差测量仪

产品系列:透过率材料应力检测

产品型号:NMH-02

产品品牌:

WPA-micro系列是Photonic lattice公司以其先进的光子晶体制造技术开发的内应力测量测试系统;适用于高相位差样品的显微表征,针对钢化玻璃和光学薄膜剖面的残余应力评估,亦可用于测量球晶、金属晶体的应力检测等。

  • 操作简单,测量速度可以快到3秒
  • 采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广
  • 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据
  • 具有多种分析功能和测量结果的比较
  • 稳定可靠
  • 钢化玻璃和光学薄膜等研发工具
  • 球晶、金属微纳晶体等
  • 高分子结晶
型号WPA-micro
测量范围0~ 3OO0nm
重复性<1.0nm
像素数384×288(≒100万)pixels
测量波长523nm,543nm,575nm
尺寸250×487×690mm
观测到的大面积镜头:5倍:约1.1×0.8 mm 10倍:0.5×0.4mm 20倍:约270×200μm 50倍:約110×80μm 100倍:約 55× 40μm
重量约11kg
数据接口GigE(摄像机信号)  RS-232(控制马达) 
电压电流AC100-240V(50/60Hz)
软件WPA-View(for WPA-micro)